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Japanese (日本語)

Filmetrics® Thin-Film Thickness Measurement Systems

Filmetrics®膜厚測定システム

Filmetrics®の膜厚測定システムは、ベンチトップおよび生産現場の両方で、透明膜の膜厚と屈折率を数秒で測定します。

シングルスポット膜厚測定システム

Benchtop systems for measuring film thickness and refractive index of a thin film with a single mouse-click. Measure thicknesses of thin films from 1nm - 3mm - even within multilayer film stacks.

Filmetrics F20

Filmetrics® F20シリーズ膜厚測定システム

最も人気のある汎用の卓上式膜厚および屈折率測定システム。

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Filmetrics F3-sX

Filmetrics® F3-sX厚膜測定システム

近赤外(NIR)光を使用して、粗い半導体層や均一性が低い半導体層、および最大3mmの誘電体層の厚さを測定します。

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Filmetrics F3-CS

Filmetrics® F3-CS膜厚測定システム

パリレンコーティングされた小さな検証用サンプルのコーティング厚さを測定するために設計された小型のポータブルツール。

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Filmetrics F10-ARc

Filmetrics® F10-ARc

レンズやその他の曲面のあるサンプルの反射率を測定することができます。ハードコート膜厚測定用のオプションが利用可能です。

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Filmetrics F10-HC

Filmetrics® F10-HC

平面および曲面上のハードコート膜および防曇膜の厚さと屈折率を測定します。 ポリカーボネートにハードコートを施す自動車産業やその他の関連業界で人気があります。

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Filmetrics F10-AR

Filmetrics® F10-AR

メガネ用レンズなどの曲面のあるサンプルの反射率を測定します。透過率およびハードコート膜厚測定用のオプションがあります。

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顕微鏡式膜厚測定システム

Film thickness measurement instrument used when a measurement spot as small as 1µm is required - use your own microscope as a metrology tool or let us supply the entire thin-film measurement system. Obtain measurements on patterned wafers, curved, and rough surfaces.

Filmetrics F40

Filmetrics® F40顕微鏡式膜厚測定システム

お持ちの顕微鏡に取り付けることで、パターン付き、湾曲、不均一なサンプルの膜厚や光学定数を、最小1μmのスポット径で測定できます。

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自動マッピング膜厚測定システム

Automated system for mapping a topographical map of a thin film's surface. Uniformity testing ensures film thickness and refractive index for nearly any sample shape.

Filmetrics® F50自動マッピング膜厚測定システム

F20シリーズに自動マッピング機能を追加したシステムです。 膜厚と光学定数を、1秒あたり2ポイントの速度でマッピングします。

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Filmetrics® F54顕微鏡式自動マッピング膜厚測定システム

直径450mmまでのサンプルの膜厚を毎秒2ポイントで高速マッピングします。

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Filmetrics® F54-XY-200およびF54-XY-300自動膜厚マッピングシステム

最大200mm × 200mm、または最大直径300mmのパターンあし/パターンなしサンプルの膜厚を、最速で1秒あたり2ポイントの速さでマッピングします。

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Filmetrics F60-t

Filmetrics® F60-t製造現場向け自動膜厚マッピングシステム

生産現場対応の卓上式自動マッピング膜厚測定システムには、オンボードのリファレンス、ノッチ検出機能、インターロック付きカバーなどが含まれています。

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インライン膜厚測定システム

Monitor and control thickness of moving films during production. Sample rates as high as 100Hz are possible at multiple measurement locations. Multi-point monitoring allows for monitoring thickness at the left, center, and right to ensure "cross-web" uniformity.

Filmetrics F32

Filmetrics® F32インライン膜厚測定システム

最大4ポイントを同時に、成膜速度、膜厚、光学定数、均一性をリアルタイムで測定可能です。

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イノベーションの歩み

1995年に最初の薄膜測定装置を発売して以来、Filmetricsの技術者は、AutoBaseline™、イメージを用いたパターン認識、内蔵の自動波長較正機能など、数々の重要なイノベーションを生み出し続けています。20年以上にわたり、Filmetricsが提供する革新的な技術と卓越したアプリケーションサポートは、薄膜計測において繰返し性や信頼性の高い測定を顧客に提供してきました。イノベーションの豊かな歴史をご覧頂き、なぜFilmetricsのシステムが薄膜測定のスタンダードになっているのかをご確認ください。

当社の製品がどのようにお役に立つかをご覧ください。

その他のソリューションを見る

  • KLA Instruments Logo

    Instruments

    KLA Instrumentsは、世界の革新技術を支えるため、業界の専門家、学者、その他のイノベーターに、信頼性のある計測および欠陥検査ソリューションを提供ます。

  • Filmetrics R54-200 sheet resistance mapping system

    Filmetrics®シート抵抗測定システム

    Filmetrics®の卓上式自動マッピングシート抵抗測定システムは、数十年にわたって培われた抵抗測定の技術革新と専門知識を駆使して開発されました。

  • Profilm3D optical profiler

    Filmetrics® and Zeta™ 光学式表面形状測定システム

    Filmetrics® Profilm3D® および Zeta は光学式の表面形状測定システムです。白色干渉や ZDot 測定技術を用いて、3D 段差、粗さ、その他の表面形状を、素早く簡単に非接触で測定します。研究開発だけでなく製造現場でもご使用頂けます。

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KLA Instrumentsは、世界の革新技術を支えるため、業界の専門家、学者、その他のイノベーターに、信頼性のある計測および欠陥検査ソリューションを提供ます。

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