应用于MEMS的蒸汽释放蚀刻

使用HF或XeF2的干法蒸汽蚀刻用于牺牲硅或氧化层的各向同性蚀刻去除,以具有较高刻蚀选择性和无粘连的方式释放弯曲部分或其他 MEMS 器件。其可提供一系列广泛的速率可控且无残留的刻蚀工艺。

蒸汽释放刻蚀技术的关键应用包括惯性传感器、反射镜阵列、谐振器、射频MEMS、微制动器和麦克风。

SPTS蒸气HF释放应用于MEMS制造的优点

  • 干法刻蚀,可避免粘连和腐蚀
  • 避免对干燥临界点的要求
  • 高重复性,较宽工艺窗口下的稳定表现
  • 与多种器件材料兼容,包括金属,尤其是无保护的铝镜面和接合焊盘
  • 减压操作使蚀刻副产物保持在气相,确保最好的特征尺寸刻蚀能力并避免冷凝

SPTS XeF2释放应用于MEMS制造的优点

  • 与大多数其他掩模和器件材料相比,各向同性腐蚀对硅、锗、钼和硅锗具有极高的刻蚀选择比
    • 允许较长的底切,不会损伤非常薄的器件结构
    • 能够使用低成本的光刻胶掩模
    • 可用于切割和封装后释放MEMS结构
  • 干法工艺-避免粘连和对对干燥临界点的要求
  • 高重复性,较宽工艺窗口下的稳定表现
  • 气相工艺,确保反应气体可通过小孔和间隙穿透,实现最强的特征尺寸刻蚀能力

相关产品信息

HF Etch Product Info  XeF2 Product Information